Wir entwickeln, fertigen und liefern Normale und andere mikrotechnische Komponenten vorzugsweise aus einkristallinem Silizium.
Die Normale sind zur Überprüfung und Kalibrierung taktiler und optischer Geräte der Topografie-, Oberflächen- und Mikrohärte-Messtechnik geeignet.
Einkristallines Silizium, wie es in der Mikroelektronik verwendet wird, ist durch seine Eigenschaften hervorragend als Werkstoff für Maßverkörperungen von Längen und Kräften geeignet.
Seine strukturelle Perfektion,
die kleine thermische Ausdehnung,
die hohe Wärmeleitfähigkeit (wie bei Metallen),
die wenig temperaturabhängigen elastischen Konstanten,
die beachtliche Härte und
die Korrosionsbeständigkeit
sichern eine hohe thermomechanische Stabilität. Darüberhinaus gestatten die verfügbaren Verfahren der Silizium-Mikrotechnologien eine Strukturierung mit höchster Präzision.
Die SiMETRICS GmbH wurde im September 2004 als Ausgründung aus der Technischen Universität Chemnitz gegründet. Ihre Mitarbeitenden haben durch mehrjährige Tätigkeit an der Technischen Universität Chemnitz Erfahrungen auf dem Gebiet der Silizium-Mikrostrukturierung erworben und waren an mehreren Projekten zur Entwicklung von Maßverkörperungen von Längen und Kräften beteiligt.
Die SiMETRICS GmbH arbeitet auch heute noch eng mit mehreren Bereichen der Technischen Universität Chemnitz zusammen. Ebenso besteht eine Kooperation mit der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB) in Braunschweig.

Tastschnittgerät DEKTAK XT

Autofokussensor AF 16
SiMETRICS GmbH
Am Südhang 5
09212 Limbach-Oberfrohna
Tel.: +49 (0) 3722 815421
Fax: +49 (0) 3722 815421
Adresse Büro Chemnitz:
TCC - Annaberger Str. 170
09125 Chemnitz
info@simetrics.de
Ihre Ansprechpartner:
Dr. E. Gärtner – gaertner@simetrics.de
Prof. Dr. J. Frühauf – fruehauf@simetrics.de
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